Can Emerging Computing Paradigms Help Enhancing Reliability Towards the End of Technology Roadmap?
Author:
Funder
National Key R&D Program of China
NSFC
111 Project
Publisher
IEEE
Link
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/9405068/9405088/09405167.pdf?arnumber=9405167
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1. A Device-Circuit Aging Simulation Framework Integrating Trap-Based Models and Sensitivity Analysis for FinFET Technology;IEEE Transactions on Electron Devices;2024-01
2. Logical Resolving-Based Methodology for Efficient Reliability Analysis;Micromachines;2023-12-30
3. Cross-Layer Design for Reliability in Advanced Technology Nodes: An EDA Perspective;2022 IEEE 16th International Conference on Solid-State & Integrated Circuit Technology (ICSICT);2022-10-25
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