Electrical modeling of Copper and Mixed Carbon bundles as a composite for 3D Interconnect applications
Author:
Publisher
IEEE
Link
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/9265537/9265518/09265633.pdf?arnumber=9265633
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1. Technology review of CNTs TSV in 3D IC and 2.5D packaging: Progress and challenges from an electrical viewpoint;Microelectronic Engineering;2024-07
2. Through Silicon Vias for 3D Integration—A Mini Review;Interconnect Technologies for Integrated Circuits and Flexible Electronics;2023-09-22
3. Performance analysis of Cu/CNT-based TSV: impact on crosstalk and power;Journal of Computational Electronics;2022-09-04
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