Frequency Noise Characterization of Narrow-Linewidth Semiconductor Lasers: A Bayesian Approach
Author:
Affiliation:
1. Weierstrass Institute for Applied Analysis and Stochastics (WIAS), Berlin, Germany
Publisher
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Link
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/4563994/10504673/10491288.pdf?arnumber=10491288
Reference28 articles.
1. Optical atomic clocks
2. LIGO: the Laser Interferometer Gravitational-Wave Observatory
3. Fundamentals of Coherent Optical Fiber Communications
4. Universal gate-set for trapped-ion qubits using a narrow linewidth diode laser
5. High-Fidelity Control and Entanglement of Rydberg-Atom Qubits
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1. Linewidth Measurement of a Narrow-Linewidth Laser: Principles, Methods, and Systems;Sensors;2024-06-05
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