Impact of layout and channel processing on CMOS low frequency noise variability
Author:
Affiliation:
1. STMicroelectronics,Cornaredo,MI,Italy
2. STMicroelectronics,Agrate Brianza,MB,Italy
Publisher
IEEE
Link
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/10268496/10268469/10268528.pdf?arnumber=10268528
Reference6 articles.
1. Impact of hump effect on MOSFET mismatch in the sub-threshold area for low power analog applications
2. Modeling of pocket implanted MOSFETs for anomalous analog behavior;cao;International Electron Devices Meeting 1999. Technical Digest (Cat. No.99CH36318),1999
3. Noise and Fluctuations in Fully Depleted Silicon-on-Insulator MOSFETs
4. A Physics-Based Statistical RTN Model for the Low Frequency Noise in MOSFETs
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