Redundancy Analysis using Genetic Algorithm
Author:
Affiliation:
1. DRAM Solutions, Samsung Semiconductor India Research and Development
2. DRAM Product Engineering Team, Samsung Electronics
Publisher
IEEE
Link
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/9691480/9691481/09691562.pdf?arnumber=9691562
Reference9 articles.
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4. A Fault-Driven, Comprehensive Redundancy Algorithm
5. Comparison of Multiobjective Evolutionary Algorithms: Empirical Results
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