A 256 K dynamic RAM
Author:
Publisher
IEEE
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http://xplorestaging.ieee.org/ielx6/8295/25927/01156048.pdf?arnumber=1156048
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1. Celebrating Technological Breakthroughs and Navigating the Future With Care [From the Editor];IEEE Signal Processing Magazine;2023-06
2. Influences of circuit design on the characteristics of soft error in MOS dynamic RAMs;Electronics and Communications in Japan (Part I: Communications);1983
3. Access time analysis of dynamic MOS RAM;Electronics and Communications in Japan (Part I: Communications);1983
4. Fast decryption algorithm for the knapsack cipher;Computers & Security;1982-01
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