A Critical Overview on Technological Progress in Nanosheets
Author:
Affiliation:
1. Thiagarajar College of Engineering,Department of ECE,Madurai,Tamilnadu,India
2. Thiagarajar College of Engineering,Department of IT,Madurai,Tamilnadu,India
Funder
TCE
Publisher
IEEE
Link
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/10493200/10493145/10493541.pdf?arnumber=10493541
Reference20 articles.
1. Device Exploration of NanoSheet Transistors for Sub-7-nm Technology Node
2. Benchmarking of FinFET, Nanosheet, and Nanowire FET Architectures for Future Technology Nodes
3. A Comprehensive Study of Nanosheet and Forksheet SRAM for Beyond N5 Node
4. Simulations of Statistical Variability in n-Type FinFET, Nanowire, and Nanosheet FETs
5. Benchmarking of Analog/RF Performance of Fin-FET, NW-FET, and NS-FET in the Ultimate Scaling Limit
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