Fabrication and characterization of low barrier height InAs/GaxIn1-xAs/InAs heterostructure diodes toward millimeter-wave detection
Author:
Affiliation:
1. Osaka Institute of Technology, 5-16-1 Ohmiya, Asahi-ku,Nanomaterials and Microdevices Research Center,Osaka,Japan,535-8585
Publisher
IEEE
Link
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/10298848/10298849/10299182.pdf?arnumber=10299182
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