Fault Tolerant Approaches to Nanoelectronic Programmable Logic Arrays
Author:
Publisher
IEEE
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http://xplorestaging.ieee.org/ielx5/4272934/4272935/04272973.pdf?arnumber=4272973
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1. Fine-Grained Defect Diagnosis for CMOL FPGA Circuits;IEEE Access;2020
2. A Survey of Fault-Tolerance Algorithms for Reconfigurable Nano-Crossbar Arrays;ACM Computing Surveys;2018-11-30
3. Topology optimization and Monte Carlo multithreading simulation for fault-tolerant nanoarrays;Journal of Computational Electronics;2018-07-09
4. Analysis of reliability for fault tolerant design in NANO CMOS logic circuit;Experimental and Theoretical NANOTECHNOLOGY;2018-01-15
5. Online multiple error detection in crossbar nano-architectures;2009 IEEE International Conference on Computer Design;2009-10
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