A fully-functional 90nm 8Mb STT MRAM demonstrator featuring trimmed, reference cell-based sensing
Author:
Publisher
IEEE
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http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/7321938/7338356/07338359.pdf?arnumber=7338359
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1. Fault-Aware ECC Scheme for Enhancing the Read Reliability of STT-MRAMs;2023 IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia);2023-09-12
2. MBIST-based Trim-Search Test Time Reduction for STT-MRAM;2022 IEEE 40th VLSI Test Symposium (VTS);2022-04-25
3. A Cost-Effective 1T-4MTJ Embedded MRAM Architecture with Voltage Offset Self-Reference Sensing Scheme for IoT Applications;IEICE Transactions on Electronics;2019-04-01
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