Hybrid Modelling for the Failure Analysis of SiC Power Transistors on Time-Domain Reflectometry Data-Reference-Cited by-同舟云学术

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Hybrid Modelling for the Failure Analysis of SiC Power Transistors on Time-Domain Reflectometry Data

Published:2021-09-15 Issue: Volume: Page:
ISSN:
Container-title:2021 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA)
language:
Short-container-title:

Author:

Kamm Simon,Sharma Kanuj,Kallfass Ingmar,Jazdi Nasser,Weyrich Michael

Funder

Bundesministerium für Bildung und Forschung

Publisher

IEEE

Link

http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/9617229/9617230/09617401.pdf?arnumber=9617401

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1. High-Resolution Time Domain Reflectometry in Advanced Package Failure Analysis;2024 Conference of Science and Technology for Integrated Circuits (CSTIC);2024-03-17

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