A BIST Approach to Approximate Co-Testing of Embedded Data Converters
Author:
Affiliation:
1. Texas Instruments Inc, Tucson, AZ, USA
2. Texas Instruments Inc, Houston, TX, USA
3. Iowa State University, Ames, IA, USA
Publisher
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Link
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/6221038/10507088/10436136.pdf?arnumber=10436136
Reference12 articles.
1. Approximate Testing of Digital VLSI Circuits using Error Significance based Fault Analysis
2. IEEE Standard for Terminology and Test Methods of Digital-to-Analog Converter Devices
3. IEEE Standard for Terminology and Test Methods for Analog-to-Digital Converters
4. A BIST scheme for an SNR test of a sigma-delta ADC
5. DSP-based statistical self test of on-chip converters
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