ISO 26262 compliant memory BIST architecture
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Publisher
IEEE
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http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/8307363/8312119/08312145.pdf?arnumber=8312145
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1. A Novel March XR Algorithm, Design, and Test Architecture for Memories;Lecture Notes in Electrical Engineering;2022
2. An In-DRAM BIST for 16 Gb DDR4 DRAM in the 2nd 10-nm-Class DRAM Process;IEEE Access;2021
3. CAN-Based Aging Monitoring Technique for Automotive ASICs With Efficient Soft Error Resilience;IEEE Access;2020
4. Live State-of-Health Safety Monitoring for Safety-Critical Automotive Systems;2019 22nd Euromicro Conference on Digital System Design (DSD);2019-08
5. Hybrid emulation approach in ISO 26262 compliant unit test process;2019 IEEE International Test Conference India (ITC India);2019-07
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