Targeting different defect-oriented fault models in IC testing: an experimental approach
Author:
Affiliation:
1. STMicroelearonics s.r.l.,Italy
2. Politecnico di Torino,Dept. of Control and Computer Engineering,Italy
Publisher
IEEE
Link
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/10456758/10456769/10456873.pdf?arnumber=10456873
Reference14 articles.
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4. Advanced automatic test pattern generation techniques for path delay faults
5. Cell-Aware Test
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