Sideway Scan, Solving the Achilles’ Heel of Scan-based Diagnosis
Author:
Affiliation:
1. Shantou University,Department of Electrical Engineering,Shantou,China
Publisher
IEEE
Link
http://xplorestaging.ieee.org/ielx8/10661305/10661306/10661334.pdf?arnumber=10661334
Reference18 articles.
1. Advancements in diagnosis driven yield analysis (DDYA): A survey of state-of-the-art scan diagnosis and yield analysis technologies
2. Survey of Scan Chain Diagnosis
3. On diagnosis of faults in a scan-chain
4. Quick scan chain diagnosis using signal profiling
5. Failure analysis for full-scan circuits
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