Logic-AAA: Debug of Logic Failures with an on-ATE Expert System
Author:
Affiliation:
1. Carnegie Mellon University,Department of Electrical and Computer Engineering,Pittsburgh,Pennsylvania
Publisher
IEEE
Link
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/10538470/10538498/10538898.pdf?arnumber=10538898
Reference17 articles.
1. Heterogeneous Integration Roadmap,2019
2. AAA: Automated, On-ATE AI Debug of Scan Chain Failures
3. A Logic Diagnosis Methodology for Improved Localization and Extraction of Accurate Defect Behavior
4. Applying Expert System Technology to Code Reuse with Pyke;Frederiksen;PyCon: Chicago,2008
5. Embedded deterministic test for low cost manufacturing test
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