Strain related degradation of highly tensile-strained multi-quantum well laser diodes
Author:
Affiliation:
1. 13th Institute of China Electronics Technology Group Corporation,Shijiazhuang City,China
Publisher
IEEE
Link
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/10070854/10070925/10071021.pdf?arnumber=10071021
Reference3 articles.
1. Defect creation in InGaAs/GaAs multiple quantum wells–I. Structural properties
2. MOVPE growth of AlGaInAs–InP highly tensile-strained MQWs for 1.3μm low-threshold lasers
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