System for Measuring Thin-Film Permeabilty by Using a Parallel Line.

Author:

Kimura T.,Mitera M.,Terasaka M.,Nose M.,Matsumoto F.,Matsuki H.,Fujimori H.,Masumoto T.

Publisher

The Magnetics Society of Japan

Subject

Electrical and Electronic Engineering,Condensed Matter Physics,Instrumentation,Electronic, Optical and Magnetic Materials

Reference4 articles.

1. 1) 白江公輔, 辻本浩章:電気学会マグネティックス研究会資料, MAG-88-7 (1988).

2. 2) 神保睦子, 綱島 滋, 内山 晋:日本応用磁気学会概要集, 8aC-10 (1990).

3. 3) 天野正彦, 谷川嘉浩, 他:電気学会マグネティックス研究会資料, MAG-92-9 (1992).

4. 4) 近角聡信編, 小笠原直幸:実験物理学講座17 磁気, p. 448, 共立出版 (1968).

Cited by 24 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献,注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献,订阅后可以查看论文全部施引文献

1. Parallel Line Type Permeameter for Thick Magnetic Material to Reduce the Error of Demagnetizing Field;2024 IEEE International Magnetic Conference - Short papers (INTERMAG Short papers);2024-05-05

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3. Anisotropy Field and Electrical Resistivity in Magnetically Soft Co-Pd-Si-O Thin Films;Journal of the Magnetics Society of Japan;1999

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5. Soft magnetic properties of Co–Cr–O granular films;Journal of Applied Physics;1998-06

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