Spectroscopie des composés Ga1-xAlxAs par modulation de longueur d'onde
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Publisher
EDP Sciences
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http://rphysap.journaldephysique.org/10.1051/rphysap:01977001203048300/pdf
Reference16 articles.
1. Electroreflectance Spectra of AlxGa1−xAs Alloys
2. Electroreflectance in the GaAs-GaP Alloys
3. Electroreflectance measurements in mixed III–V alloys
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1. Interface analysis by spectroscopic ellipsometry of Ga1−xAlxAs‐GaAs heterojunctions grown by metal organic vapor phase epitaxy;Applied Physics Letters;1983-08
2. Growth monitoring and characterization of (Al, Ga)As-GaAs heterostructures by ellipsometry;Journal of Crystal Growth;1981-10
3. Qualitative and quantitative assessments of the growth of (Al,Ga) As-GaAs heterostructures by in situ ellipsometry;Revue de Physique Appliquée;1981
4. Mesure du coefficient d'absorption et de la transmission dérivée dans Ga1-xAlxAs epitaxial;Revue de Physique Appliquée;1979
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