Electromigration in Thin Film Conductors
Author:
Publisher
Trans Tech Publications, Ltd.
Subject
Condensed Matter Physics,General Materials Science,Radiation
Link
https://www.scientific.net/DDF.143-147.1661.pdf
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1. Controlled electromigration protocol revised;Review of Scientific Instruments;2018-04
2. Methods to Determine Electrical Conductance of Single-Molecule Junctions;Single-Molecule Electronics;2016
3. Grain boundary grooving induced by the anisotropic surface drift diffusion driven by the capillary and electromigration forces: Simulations;Journal of Applied Physics;2011-08-15
4. In-Situ Electromigration Damage of Al Interconnect Lines and the Influence of Grain Orientation;MRS Proceedings;1999
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