Finite Element Modelling of Stress-Induced Fracture in Ti-Si-N Films
Author:
Affiliation:
1. University of Sydney
2. Indian Institute of Technology Madras
3. University of Groningen
4. City University of Hong Kong
5. University of Missouri-Columbia
Abstract
Publisher
Trans Tech Publications, Ltd.
Link
https://www.scientific.net/AMM.553.10.pdf
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