1. Сапожников В.В., Сапожников Вл.В., Христов Х.А., Гавзов Д.В. Методы построения безопасных микроэлектронных систем железнодорожной автоматики. – Под ред. Вл.В. Сапожникова. – М.: Транспорт, 1995, 272 с., Sapozhnikov V.V., Sapozhnikov Vl.V., Hristov H.A., Gavzov D.V. Metody postroeniya bezopasnyh mikroelektronnyh sistem zheleznodorozhnoy avtomatiki. – Pod red. Vl.V. Sapozhnikova. – M.: Transport, 1995, 272 s.
2. Пархоменко П.П., Согомонян Е.С. Основы технической диагностики (оптимизация алгоритмов диагностирования, аппаратурные средства). – М.: Энергоатомиздат, 1981, 320 с., Parhomenko P.P., Sogomonyan E.S. Osnovy tehnicheskoy diagnostiki (optimizaciya algoritmov diagnostirovaniya, apparaturnye sredstva). – M.: Energoatomizdat, 1981, 320 s.
3. Согомонян Е.С., Слабаков Е.В. Самопроверяемые устройства и отказоустойчивые системы. – М.: Радио и связь, 1989, 208 с., Sogomonyan E.S., Slabakov E.V. Samoproveryaemye ustroystva i otkazoustoychivye sistemy. – M.: Radio i svyaz', 1989, 208 s.
4. Goessel M., Graf S. Error Detection Circuits. – London: McGraw-Hill, 1994, 261 p., Goessel M., Graf S. Error Detection Circuits. – London: McGraw-Hill, 1994, 261 p.
5. Nicolaidis M., Zorian Y. On-Line Testing for VLSI – А Compendium of Approaches // Journal of Electronic Testing: Theory and Applications. – 1998. – №12. – Pp. 7-20., Nicolaidis M., Zorian Y. On-Line Testing for VLSI – A Compendium of Approaches // Journal of Electronic Testing: Theory and Applications. – 1998. – №12. – Pp. 7-20.