1. 1. J. Haisma, M. Verheijen, K. van den Heuvel, and J. van den Berg, J. Vac. Sci. Technol. B 14 (1996) 4124.
2. 2. M. Colburn, S. Johnson, M. Stewart, S. Damle, T. Bailey, B. Choi, M. Wedlake, T. Michaelson, S. V. Sreenivasan, J. Ekerdt, and C. G. Willson, Proc. SPIE 3676 (1999) 379.
3. 3. H. Schift, J. Vac. Sci. Technol. B 26, 458 (2008).
4. 4. W. J. Dauksher, N. V. Le, K. A. Gehoski, E. S. Ainley, K. J. Nordquist and N. Joshi, Proc. SPIE 6517 (2007) 651714-1.
5. 5. I. McMackin, W. Martin, J. Perez, K. Selenidis, J. Maltabes, F. Xu, D. Resnick and S. V. Sreenivasan, J. Vac. Sci.Technol. B 26 (2008) 151.