1. 1. T. Kanki, J. Ikeda, Y. Kobayashi, S.Suda, Y. Nakata, and T. Nakamura, Proc. IEEE IITC, (2012) 92.
2. 2. D.-C. Hu, P. Lin, and Y. H. Chen, Trans. Jpn. Inst. Electron. Packaging, 8 (2015) 18.
3. 3. F. Liu, A. Kubo, C. Nair, T. Ando, R. Furuya, S. Dwarakanth, V. Sundaram, and Rao R. Tummala, IEEE ECTC, (2016) 1515.
4. 4. C. H. Yu, L. J. Hesieh, J. S. Hesieh, Victor C. Y. Chang, C. H. Hesieh, C. S. Liu, C. T. Wang, K. C. Yee, and D. C. H. Yu, IEEE ECTC, (2018) 587.
5. 5. D. C. Hu, W. L. Yeh, Y. H. Chen, and R. Tain, IEEE ECTC, (2016) 147.