Challenges in high-aspect ratio contact (HARC) etching for DRAM capacitor formation

Author:

Kim Yongjin,Lee Sangdo,Jung Taewoo,Lee Byoungseok,Kwak Nohjung,Park Sungki

Publisher

SPIE

Reference3 articles.

1. Memory technology trend and future challenges;Hong,2010

2. Manos, D. M. and Flamm, D. L., [Plasma Etching], Academic Press, Inc., 18-21 (1989).

3. Developments of Plasma Etching Technology for Fabricating Semiconductor Devices;Abe,2008

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