Modeling high-frequency capacitance in SOI MOS capacitors
Author:
Affiliation:
1. Warsaw Univ. of Technology (Poland)
2. Omar Al-Mukhtar Univ. (Libya)
Publisher
SPIE
Reference6 articles.
1. Unusual $C$– $V$ Characteristics of High-Resistivity SOI Wafers
2. Analytical model for C–V characteristic of fully depleted SOI–MOS capacitors
3. SOI technology characterization using SOI-MOS capacitor
4. Modeling of SOI-MOS capacitors C-V behavior: partially- and fully-depleted cases
5. Inversion charge redistribution model of the high-frequency MOS capacitance
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