Strain and Precision Lattice Parameter Measurements by the X‐Ray Divergent Beam Method. I

Author:

Ellis T.,Nanni L. F.,Shrier A.,Weissmann S.,Padawer G. E.,Hosokawa N.

Publisher

AIP Publishing

Subject

General Physics and Astronomy

Cited by 55 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献,注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献,订阅后可以查看论文全部施引文献

1. Precise determination of crystal lattice parameters;Physics-Uspekhi;2020-09-01

2. X-ray divergent-beam (Kossel) technique: A review;Crystallography Reports;2011-03

3. 75 years of Kossel patterns – past and future;IOP Conference Series: Materials Science and Engineering;2010-02-01

4. References;Introduction to Texture Analysis;2009-11-16

5. Structure factors from pseudo-Kossel line patterns;Journal of Applied Crystallography;2005-09-15

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