Microanalysis by Means of Electrons
Author:
Publisher
AIP Publishing
Subject
General Physics and Astronomy
Link
http://aip.scitation.org/doi/pdf/10.1063/1.1707491
Reference13 articles.
1. Determination of Object Thickness in Electron Microscopy
2. Der Einfluß von Elektroneninterferenzen auf die Abbildung von Kristallen im Übermikroskop
3. Über das Auftreten von Schwärzungslinien bei der elektronenmikroskopischen Abbildung kristalliner Lamellen
4. Der Einflu� von Kristallgitter-Interferenzen auf die Abbildung im Elektronenmikroskop
5. The Observation of Crystalline Reflections in Electron Microscope Images
Cited by 150 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献
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2. Elemental quantification using electron energy-loss spectroscopy with a low voltage scanning transmission electron microscope (STEM-EELS);Ultramicroscopy;2024-08
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5. The spatial and temporal evolution of mineral discoveries and their impact on mineral rarity;American Mineralogist;2022-10-01
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