Advanced method for electrical characterization of carrier-selective passivating contacts using transfer-length-method measurements under variable illumination

Author:

Senaud L.-L.12ORCID,Procel P.34,Christmann G.1,Descoeudres A.1ORCID,Geissbühler J.1,Allebé C.1,Badel N.1,Wyss P.1,Boccard M.2ORCID,Isabella O.3,Zeman M.3,Nicolay S.1,Despeisse M.1,Ballif C.12ORCID,Paviet-Salomon B.1

Affiliation:

1. CSEM PV-Center, Rue Jaquet-Droz 1, CH-2002 Neuchâtel, Switzerland

2. EPFL, Photovoltaics and Thin Film Electronics Laboratory, Rue de la Maladière 71b, CH-2000 Neuchâtel, Switzerland

3. PVMD, Delft University of Technology (TU Delft), Mekelweg 5, 2628 CD Delft, The Netherlands

4. Instituto de Micro y Nanoelectrónica—Universidad San Francisco de Quito, Diego de Robles s/n, Quito 170901, Ecuador

Funder

SNSF SHAMAN

Publisher

AIP Publishing

Subject

General Physics and Astronomy

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