Stacking fault reduction during annealing in Cu-poor CuInSe2 thin film solar cell absorbers analyzed by in situ XRD and grain growth modeling

Author:

Stange Helena1ORCID,Brunken Stephan2,Greiner Dieter2,Heinemann Marc Daniel2,Barragan Yani Daniel Antonio3,Wägele Leonard Alwin4,Li Chen5,Simsek Sanli Ekin5ORCID,Kahnt Max6,Schmidt Sebastian Simon2,Bäcker Jan-Peter2,Kaufmann Christian Alexander2,Klaus Manuela2,Scheer Roland4,Genzel Christoph2,Mainz Roland2ORCID

Affiliation:

1. Technische Universität Berlin, Institut für Werkstoffwissenschaften, Ernst-Reuter Platz 1, 10587 Berlin, Germany

2. Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH, Hahn-Meitner Platz 1, 14109 Berlin, Germany

3. Technische Universität Darmstadt, FG Materialmodellierung, Jovanka-Bontschits-Str. 2, 64287 Darmstadt, Germany

4. Martin Luther Universität Halle-Wittenberg, Institut für Physik, von-Danckelmann Platz 3, 06120 Halle, Germany

5. Stuttgart Center for Electron Microscopy, Max Planck Institute for Solid State Research, Heisenbergstr. 1, 70569 Stuttgart, Germany

6. Freie Universität Berlin, Numerische Analysis partieller Differentialgleichungen, Arnimallee 6, 14195 Berlin, Germany

Funder

European Metrology Researach Program

Helmholtz-Gesellschaft

Bundesministerium für Bildung und Forschung

Publisher

AIP Publishing

Subject

General Physics and Astronomy

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