1. A. I. Lugovskoi, S. A. Loginov, O. B. Balashov, A. A. Kuznetsov, E. V. Vasil’ev, and E. Ya. Chernyak, Prib. Sistemy. Upravl. Kontrol’ Diagnost., No. 6, 55 (2003).
2. V. K. Malyutenko, O. Yu. Malyutenko, A. D. Podoltsev, I. N. Kucheryaeva, B. A. Matveev, M. A. Remennyi, and N. M. Stus’, Appl. Phys. Lett. 79, 4228 (2001).
3. B. E. Zhurtanov, N. D. Il’inskaya, A. N. Imenkov, M. P. Mikhailova, K. V. Kalinina, M. A. Sipovskaya, N. D. Stoyanov, and Yu. P. Yakovlev, Fiz. Tekh. Poluprovodn. 42, 468 (2008) [Semiconductors 42, 458 (2008)].
4. B. A. Matveev, A. V. Ankudinov, N. V. Zotova, S. A. Karandashev, T. V. L’vova, M. A. Remennyy, A. Yu. Rubal’chenko, and N. M. Stus’, Proc. SPIE 7597, 75970G (2010).
5. V. K. Malyutenko and S. S. Bolgov, Proc. SPIE 7617, 76171K–1 (2010).