1. W. A. Soer, M. J. J. Jak, A. M. Yakunin, et al., Proc. SPIE — Int. Soc. Opt. Eng. 7271, 72712 (2009).
2. M. S. Bibishkin, N. I. Chkhalo, S. A. Gusev, et al., Proc. SPIE — Int. Soc. Opt. Eng. 7025, 702502 (2008).
3. N. I. Chkhalo, S. A. Gusev, M. N. Drozdov, et al., Proc. SPIE — Int. Soc. Opt. Eng. 7521, 752105 (2010).
4. S. S. Andreev, M. S. Bibishkin, E. B. Klyuenkov, et al., Izv. Akad. Nauk, Ser. Fiz. 69(2), 207 (2005).
5. E. B. Klyuenkov, A. Ya. Lopatin, V. I. Luchin, et al., in Proceedings of the Workshop on X-Ray Optics 2010 (Chernogolovka, 2010), p. 90.