1. K. D. Joensen, P. Gorenstein, F. E. Christensen, et al., Proc. SPIE-Int. Soc. Opt. Eng., 2253 (1994).
2. I. V. Kozhevnikov, I. N. Bukreeva, and E. Ziegler, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. A 460, 424 (2001).
3. Z. Wang and A. G. Michette, Proc. SPIE-Int. Soc. Opt. Eng. 4145, 243 (2001).
4. N. N. Kolachevskiĭ, A. S. Pirozhkov, and E. N. Ragozin, Kratk. Soobsch. Fiz. FI RAN, No. 12, 55 (1998).
5. E. Ziegler, I. N. Bukreeva, I. V. Kozhevnikov, et al., Proc. SPIE-Int. Soc. Opt. Eng. 3737, 386 (1999).