Double-Crystal X-Ray Diffractometry and Topography Methods in the Analysis of the Real Structure of Crystals

Author:

Romanov D. A.,Prokhorov I. A.,Voloshin A. E.,Kosushkin V. G.,Bolshakov A. P.,Ralchenko V. G.

Publisher

Pleiades Publishing Ltd

Subject

Surfaces, Coatings and Films

Reference40 articles.

1. A. Authier, Dynamical Theory of X-Ray Diffraction (Oxford University Press, Oxford, 2001).

2. Z. G. Pinsker, X-ray Crystal Optics (Nauka, Moscow, 1982) [in Russian].

3. D. K. Bowen and B. K. Tanner, High Resolution X-Ray Diffractometry and Topography (Taylor and Francis, London, 1998).

4. I. L. Shul’pina, Poverkhn.: Rentgenovskie, Sinkhrotronnye Neitr. Issled., No. 4, 3 (2000).

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