1. N. N. Ledentsov, V. M. Ustinov, V. A. Shchukin, et al., Fiz. Tekh. Poluprovodn. (St. Petersburg) 32, 385 (1998) [Semiconductors 32, 343 (1998)].
2. N. V. Baidus’, B. N. Zvonkov, D. O. Filatov, et al., in Proceedings of the All-Russia Conference “Microprobe Microscopy-99,” Nizhni Novgorod, 1999, p. 164; Poverkhnost’ (in press).
3. B. N. Zvonkov, I. G. Malkina, E. R. Lin’kova, et al., Fiz. Tekh. Poluprovodn. (St. Petersburg) 31, 1100 (1997) [Semiconductors 31, 941 (1997)].
4. H. Saito, K. Nishi, and S. Sugou, Appl. Phys. Lett. 73, 2742 (1998).
5. B. V. Volovik, A. F. Tsatsul’nikov, D. A. Bedarev, et al., Fiz. Tekh. Poluprovodn. (St. Petersburg) 33, 990 (1999) [Semiconductors 33, 901 (1999)].