1. E. Theodossiu, H. Baumann, E. K. Polychroniadis, and K. Bethge, Nucl. Insturm. Meth. B 161, 941 (2000).
2. D. Chen, S. P. Wong, S. Yang, and D. Mo, Thin Solid Films 426, 1 (2003).
3. J. A. Borders, S. T. Picraux, and W. Beezhold, Appl. Phys. Lett. 18, 509 (1971).
4. E. K. Baranova, K. D. Demakov, K. V. Starinin, L. N. Strel’tsov, and I. B. Khaibullin, Dokl. Akad. Nauk SSSR 200, 869 (1971).
5. N. N. Gerasimenko, O. N. Kuznetsov, L. V. Lezheiko, E. V. Lyubopytova, L. S. Smirnov, and F. L. Edel’man, Mikroelektronika 3, 467 (1974).