On the problem of calculating the optical film parameters from the measured transmission spectra

Author:

Vol’pyan O. D.,Yakovlev P. P.

Publisher

Pleiades Publishing Ltd

Subject

Atomic and Molecular Physics, and Optics,Electronic, Optical and Magnetic Materials

Reference18 articles.

1. Physics of Thin Films: Advances in Research and Development, Ed. by G. Haas and R. Thun (Academic, New York, 1964; Mir, Moscow, 1967), Vol. 2, pp. 136–185.

2. F. Abeles, Prog. Opt. 2, 249 (1963).

3. P. Rouard and P. Bousquet, Prog. Opt. 4, 145 (1965).

4. A. V. Rakov, Spectrophotometry of Thin-Film Semiconductor Structures (Sov. Radio, Moscow, 1975).

5. B. B. Meshkov and P. P. Yakovlev, Opt. Zh. 67(9), 69 (2000) [J. Opt. Technol. 67, 834 (2000)].

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