1. A. J. R. d Kock, in Defects in Semiconductors, Ed. by J. Narayan and T. Y. Tan (North-Holland, Amsterdam, 1981), p. 309.
2. A. A. Sitnikova, L. M. Sorokin, I. E. Talanin, K. L. Malyshev, E. G. Sheikhet, and E. S. Fal’kevich, Sov. Phys. Solid State 28 (6), 1015 (1986).
3. A. Bourret, J. Thibault-Desseaux, and D. N. Seidman, J. Appl. Phys. 55, 825 (1984).
4. V. T. Bublik and N. M. Zotov, Crystallogr. Rep. 44 (4), 635 (1997).
5. S. Sadamitsu, S. Umeno, Y. Koike, M. Hourai, S. Sumita, and T. Shigematsu, Jpn. J. Appl. Phys. 32, 3675 (1993).