Affiliation:
1. Института кристаллографии им. А.В. Шубникова ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» РАН
Abstract
В обзоре описаны различные рентгенотопографические методы визуализации дефектов кристаллической решетки, рассмотрены вопросы формирования дифракционного контраста, а также приведены примеры использования рентгеновской топографии для изучения структурных дефектов различных кристаллических объектов.