Analysis of potential ECB effects from AI CP exposure-Reference-Cited by-同舟云学术

Analysis of potential ECB effects from AI CP exposure

Published:2021-07-26 Issue:2 Volume:14 Page:80-86
ISSN:2219-0767
Container-title:Modeling of systems and processes
language:en
Short-container-title:

Author:

Kozyukov Aleksandr¹,Chubunov Pavel¹,Zolnikov Konstantin²,Skvortsova Tatyana³,Zhuravleva I.⁴

Affiliation:

1. AO "Nauchno-issledovatel'skiy institut kosmicheskogo priborostroeniya"

2. AO "Nauchno-issledovatel'skiy institut elektronnoy tehniki"

3. Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov

4. Filial Rostovskogo gosudarstvennogo universiteta putey soobscheniya v g. Voronezhe

Abstract

The nature of the effect of radiation on a solid depends on the type, kinetic energy, mass and charge of the particles that make up this radiation, as well as on the mass, atomic number and density of the material. The article deals with the issues related to the physical models of the impact of ionizing radiation from outer space on the components of spacecraft equipment.

Publisher

Infra-M Academic Publishing House

Subject

General Medicine

Reference12 articles.

1. Соловьев, А.В. Конструктивно-технологические методы улучшения электрических характеристик радиационно стойких микросхем в условиях серийного производства / А.В. Соловьев // Наноиндустрия. – 2020. – № S96-2. – С. 712-716. – DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.3s.712.716, Solov'ev, A.V. Konstruktivno-tehnologicheskie metody uluchsheniya elektricheskih harakteristik radiacionno stoykih mikroshem v usloviyah seriynogo proizvodstva / A.V. Solov'ev // Nanoindustriya. – 2020. – № S96-2. – S. 712-716. – DOI: 10.22184/1993-8578.2020.13.3s.712.716

2. Создание базиса для микросхем сбора и обработки данных / В.А. Скляр, А.В. Ачкасов, К.В. Зольников, И.И. Струков, К.А. Чубур // Моделирование систем и процессов. – 2018. – Т. 11, № 2. – С.66-71. – DOI: 10.12737/article_5b57795062f199.54387613, Sozdanie bazisa dlya mikroshem sbora i obrabotki dannyh / V.A. Sklyar, A.V. Achkasov, K.V. Zol'nikov, I.I. Strukov, K.A. Chubur // Modelirovanie sistem i processov. – 2018. – T. 11, № 2. – S.66-71. – DOI: 10.12737/article_5b57795062f199.54387613

3. Анализ качества проектирования блоков ОЗУ в составе микропроцессорных систем с обеспечением минимальной сбоеустойчивости / В.К. Зольников, Ю.А. Чевычелов, В.В. Лавлинский, А.В. Ачкасов, А.В. Толкачев, О.В. Оксюта // Моделирование систем и процессов. – 2019. – Т. 12, № 4. – С. 47-55. –DOI: 10.12737/2219-0767-2020-12-4-47-55, Analiz kachestva proektirovaniya blokov OZU v sostave mikroprocessornyh sistem s obespecheniem minimal'noy sboeustoychivosti / V.K. Zol'nikov, Yu.A. Chevychelov, V.V. Lavlinskiy, A.V. Achkasov, A.V. Tolkachev, O.V. Oksyuta // Modelirovanie sistem i processov. – 2019. – T. 12, № 4. – S. 47-55. –DOI: 10.12737/2219-0767-2020-12-4-47-55

4. Анализ проектирования блоков RISC-процессора с учетом сбоеустойчивости / В.К. Зольников, А.С. Ягодкин, В.И. Анциферова, С.А. Евдокимова, Т.В. Скворцова, А.И. Яньков // Моделирование систем и процессов. – 2019. – Т. 12, № 4. – С. 56-65. – DOI: 10.12737/2219-0767-2020-12-4-56-65, Analiz proektirovaniya blokov RISC-processora s uchetom sboeustoychivosti / V.K. Zol'nikov, A.S. Yagodkin, V.I. Anciferova, S.A. Evdokimova, T.V. Skvorcova, A.I. Yan'kov // Modelirovanie sistem i processov. – 2019. – T. 12, № 4. – S. 56-65. – DOI: 10.12737/2219-0767-2020-12-4-56-65

5. Методы контроля надежности при разработке микросхем / К.В. Зольников, С.А. Евдокимова, Т.В. Скворцова, А.Е. Гриднев // Моделирование систем и процессов. – 2020. – Т. 13, № 1. – С. 39-45. – DOI: 10.12737/2219-0767-2020-13-1-39-45, Metody kontrolya nadezhnosti pri razrabotke mikroshem / K.V. Zol'nikov, S.A. Evdokimova, T.V. Skvorcova, A.E. Gridnev // Modelirovanie sistem i processov. – 2020. – T. 13, № 1. – S. 39-45. – DOI: 10.12737/2219-0767-2020-13-1-39-45