METHODS OF RELIABILITY CONTROL IN CHIP DEVELOPMENT

Author:

Zolnikov Konstantin1,Evdokimova Svetlana2,Skvortsova Tatyana2,Gridnev A.

Affiliation:

1. AO "Nauchno-issledovatel'skiy institut elektronnoy tehniki"

2. Voronezh State University of Forestry and Technologies named after G.F. Morozov

Abstract

The article considers the issues of reliability control in the development of chips. A reliability control scheme is provided for analyzing the States of major elements and accounting for failures. The paper describes the rejection tests, the sequence of their conduct, as well as the results of the analysis of methods and conditions of testing

Publisher

Infra-M Academic Publishing House

Subject

General Medicine

Reference9 articles.

1. Конструкция и технология микросхем космического назначения / В. К. Зольников, А. Ю. Кулай, И. И. Струков, К. А. Чубур, Ю. А. Чевычелов, С. В. Гречаный // Информационно-сенсорные системы в теплофизических исследованиях: сборник трудов научной конференции. - Тамбов: ТГТУ, 2018. - С. 229-232., Konstrukciya i tehnologiya mikroshem kosmicheskogo naznacheniya / V. K. Zol'nikov, A. Yu. Kulay, I. I. Strukov, K. A. Chubur, Yu. A. Chevychelov, S. V. Grechanyy // Informacionno-sensornye sistemy v teplofizicheskih issledovaniyah: sbornik trudov nauchnoy konferencii. - Tambov: TGTU, 2018. - S. 229-232.

2. Яньков, А.И. Методы испытаний современных СБИС / А.И. Яньков, В.К. Зольников, В.Е. Межов // Моделирование систем и процессов. - 2013. - № 1. - С. 67-69., Yan'kov, A.I. Metody ispytaniy sovremennyh SBIS / A.I. Yan'kov, V.K. Zol'nikov, V.E. Mezhov // Modelirovanie sistem i processov. - 2013. - № 1. - S. 67-69.

3. Обобщенная методика проектирования технических блоков высоконадежных программно-технических комплексов специального назначения / В.К. Зольников, Д.М. Уткин, С.А. Евдокимова, В.И. Анциферова // Радиационная стойкость электронных систем «Стойкость-2014» : сборник тезисов докладов 17-й Всероссийской научно-практической конференции по радиационной стойкости электронных систем. – М. : Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ», 2014. – С. 71-72., Obobschennaya metodika proektirovaniya tehnicheskih blokov vysokonadezhnyh programmno-tehnicheskih kompleksov special'nogo naznacheniya / V.K. Zol'nikov, D.M. Utkin, S.A. Evdokimova, V.I. Anciferova // Radiacionnaya stoykost' elektronnyh sistem «Stoykost'-2014» : sbornik tezisov dokladov 17-y Vserossiyskoy nauchno-prakticheskoy konferencii po radiacionnoy stoykosti elektronnyh sistem. – M. : Nacional'nyy issledovatel'skiy yadernyy universitet «MIFI», 2014. – S. 71-72.

4. Схемотехнический базис и проверка микросхем на работоспособность / В.К. Зольников, С.А. Евдокимова, А.В. Фомичев, В.Н. Чикин, А.В. Ачкасов, В.Ф. Зинченко // Моделирование систем и процессов. – 2018. – Т. 11, № 4. – С. 25-30., Shemotehnicheskiy bazis i proverka mikroshem na rabotosposobnost' / V.K. Zol'nikov, S.A. Evdokimova, A.V. Fomichev, V.N. Chikin, A.V. Achkasov, V.F. Zinchenko // Modelirovanie sistem i processov. – 2018. – T. 11, № 4. – S. 25-30.

5. Отбраковочные испытания как средство повышения надежности партий ИС / М. Горлов, А. Строгонов, С. Арсентьев, В. Емельянов, В. Плебанович // Технологии в электронной промышленности. – 2006. – № 1 (7). – С. 70-75., Otbrakovochnye ispytaniya kak sredstvo povysheniya nadezhnosti partiy IS / M. Gorlov, A. Strogonov, S. Arsent'ev, V. Emel'yanov, V. Plebanovich // Tehnologii v elektronnoy promyshlennosti. – 2006. – № 1 (7). – S. 70-75.

Cited by 23 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献,注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献,订阅后可以查看论文全部施引文献

1. Semiconductor technologies for the implementation of radiation-resistant VLSI;Modeling of systems and processes;2022-04-08

2. Overview of logical bases and microcircuits in the construction of a combination device taking into account reliability;Modeling of systems and processes;2022-04-08

3. Simulation of oscillatory processes in the MVSTUDIUM package;Modeling of systems and processes;2022-01-08

4. Implementation of the optimal construction of a combination device and evaluation of reliability by output voltage;Modeling of systems and processes;2022-01-08

5. METHODS OF DESIGNING AN ELECTROENCEPHALOGRAPH FOR TAKING IMPULSES FROM THE CEREBRAL CORTEX;Materials of the All-Russian Scientific and Practical Conference "Modern aspects of modeling systems and processes";2021-12-10

同舟云学术

1.学者识别学者识别

2.学术分析学术分析

3.人才评估人才评估

"同舟云学术"是以全球学者为主线,采集、加工和组织学术论文而形成的新型学术文献查询和分析系统,可以对全球学者进行文献检索和人才价值评估。用户可以通过关注某些学科领域的顶尖人物而持续追踪该领域的学科进展和研究前沿。经过近期的数据扩容,当前同舟云学术共收录了国内外主流学术期刊6万余种,收集的期刊论文及会议论文总量共计约1.5亿篇,并以每天添加12000余篇中外论文的速度递增。我们也可以为用户提供个性化、定制化的学者数据。欢迎来电咨询!咨询电话:010-8811{复制后删除}0370

www.globalauthorid.com

TOP

Copyright © 2019-2024 北京同舟云网络信息技术有限公司
京公网安备11010802033243号  京ICP备18003416号-3