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Symmetry and planar chirality measured with a log-polar transformation in a transmission electron microscope

  • Published:2024-07-31 Issue:1 Volume:22 Page:
  • ISSN:2331-7019
  • Container-title:Physical Review Applied
  • language:en
  • Short-container-title:Phys. Rev. Applied

Author:

Tavabi A.H.1,Rosi P.2ORCID,Ravelli R.B.G.3ORCID,Gijsbers A.3,Rotunno E.2,Guner T.4,Zhang Y.3,Roncaglia A.5,Belsito L.5,Pozzi G.16,Denneulin T.1ORCID,Gazzadi G.C.2,Ghosh M.7,Nijland R.7,Frabboni S.62,Peters P.J.3,Karimi E.4,Tiemeijer P.7,Dunin-Borkowski R.E.1ORCID,Grillo V.2ORCID

Affiliation:

1. Forschungszentrum Jülich

2. CNR - Istituto di Nanoscienze

3. Maastricht University

4. University of Ottawa

5. Istituto per la Microelettronica e Microsistemi (IMM) Consiglio Nazionale delle Ricerche (CNR)

6. Universitá di Modena e Reggio Emilia

7. Thermo Fisher Scientific

Funder

European Union’s Horizon 2020 Research and Innovation Programme

Canada Research Chairs

CRC

QSORT

SMARTelectrons

MINOEN

Ontario Early Researcher Award

Publisher

American Physical Society (APS)

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