Measurement of the Nuclear Modification Factor and Prompt Charged Particle Production in p -Pb and pp Collisions at sNN=5TeV

Author:

Aaij R.,Abellán Beteta C.,Ackernley T.,Adeva B.,Adinolfi M.,Afsharnia H.,Aidala C. A.,Aiola S.,Ajaltouni Z.,Akar S.,Albrecht J.,Alessio F.,Alexander M.,Alfonso Albero A.,Aliouche Z.,Alkhazov G.,Alvarez Cartelle P.,Amato S.,Amey J. L.,Amhis Y.,An L.,Anderlini L.,Andreianov A.,Andreotti M.,Archilli F.,Artamonov A.,Artuso M.,Arzymatov K.,Aslanides E.,Atzeni M.,Audurier B.,Bachmann S.,Bachmayer M.,Back J. J.,Baladron Rodriguez P.,Balagura V.,Baldini W.,Baptista Leite J.,Barlow R. J.,Barsuk S.,Barter W.,Bartolini M.,Baryshnikov F.,Basels J. M.,Bassi G.,Batsukh B.,Battig A.,Bay A.,Becker M.,Bedeschi F.,Bediaga I.,Beiter A.,Belavin V.,Belin S.,Bellee V.,Belous K.,Belov I.,Belyaev I.,Bencivenni G.,Ben-Haim E.,Berezhnoy A.,Bernet R.,Berninghoff D.,Bernstein H. C.,Bertella C.,Bertolin A.,Betancourt C.,Betti F.,Bezshyiko Ia.,Bhasin S.,Bhom J.,Bian L.,Bieker M. S.,Bifani S.,Billoir P.,Birch M.,Bishop F. C. R.,Bitadze A.,Bizzeti A.,Bjørn M.,Blago M. P.,Blake T.,Blanc F.,Blusk S.,Bobulska 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M.,Cliff H. V.,Closier J.,Cobbledick J. L.,Coco V.,Coelho J. A. B.,Cogan J.,Cogneras E.,Cojocariu L.,Collins P.,Colombo T.,Congedo L.,Contu A.,Cooke N.,Coombs G.,Corredoira I.,Corti G.,Costa Sobral C. M.,Couturier B.,Craik D. C.,Crkovská J.,Cruz Torres M.,Currie R.,Da Silva C. L.,Dadabaev S.,Dai L.,Dall’Occo E.,Dalseno J.,D’Ambrosio C.,Danilina A.,d’Argent P.,Davies J. E.,Davis A.,De Aguiar Francisco O.,De Bruyn K.,De Capua S.,De Cian M.,De Miranda J. M.,De Paula L.,De Serio M.,De Simone D.,De Simone P.,de Vries J. A.,Dean C. T.,Decamp D.,Del Buono L.,Delaney B.,Dembinski H.-P.,Dendek A.,Denysenko V.,Derkach D.,Deschamps O.,Desse F.,Dettori F.,Dey B.,Di Cicco A.,Di Nezza P.,Didenko S.,Dieste Maronas L.,Dijkstra H.,Dobishuk V.,Donohoe A. M.,Dordei F.,dos Reis A. C.,Douglas L.,Dovbnya A.,Downes A. G.,Dreimanis K.,Dudek M. W.,Dufour L.,Duk V.,Durante P.,Durham J. M.,Dutta D.,Dziurda A.,Dzyuba A.,Easo S.,Egede U.,Egorychev V.,Eidelman S.,Eisenhardt S.,Ek-In S.,Eklund L.,Ely S.,Ene A.,Epple 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