Evaluation and Analysis Technique Using TEM

Author:

HIROSE Yukinori1,FUKUMOTO Koji1

Affiliation:

1. ULSI Development Center, Mitsubishi Electric Corporation

Publisher

The Surface Finishing Society of Japan

Subject

General Engineering

Reference7 articles.

1. 5) L. R. Herlinger, S. Chevacharoenkul and D. C. Erwin ; Proceedings from the 22nd International Symposium for Testing and Failure Analysis, 199-205 (1996)

2. 6) T. Ohnishi, H. Koike, T. Ishitani, S. Tomimatsu and K. Umemura ; Proceedings from the 25th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 449-453 (1999)

3. 14) W. R. Rau, P. Schwander, F. H. Baumann, W. Hoppener, and A. Ourmazd ; Phys. Rev. Lett. 82, 2614 (1999)

Cited by 1 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献,注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献,订阅后可以查看论文全部施引文献

1. Evaluation of Internal Structure of GaN High Electron Mobility Transistor;IEEJ Transactions on Sensors and Micromachines;2022-12-01

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