10.4139/sfj.59.887
Author:
Publisher
The Surface Finishing Society of Japan
Subject
General Engineering
Reference26 articles.
1. 1) 大西孝治, 堀池靖浩, 吉原一紘編;固体表面分析 I, p. 207 (講談社サイエンティフィク, 1995).
2. Evaluation of a cesium primary ion source on an ion microprobe mass spectrometer
3. Positive secondary ion yields under In+- and O2+-bombardement
4. Development of a triplasmatron ion source for the generation of SF5+ and F− primary ion beams on an ion microscope secondary ion mass spectrometry instrument
5. 5) A. R. Waugh, A. R. Bayly and K. Anderson ; Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, 218, 375 (1983).
Cited by 1 articles. 订阅此论文施引文献 订阅此论文施引文献，注册后可以免费订阅5篇论文的施引文献，订阅后可以查看论文全部施引文献
1. 10.5104/jiep.14.69;Journal of Japan Institute of Electronics Packaging;2011
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