Author:
Allaria E.,Appio R.,Badano L.,Barletta W.A.,Bassanese S.,Biedron S.G.,Borga A.,Busetto E.,Castronovo D.,Cinquegrana P.,Cleva S.,Cocco D.,Cornacchia M.,Craievich P.,Cudin I.,D'Auria G.,Dal Forno M.,Danailov M.B.,De Monte R.,De Ninno G.,Delgiusto P.,Demidovich A.,Di Mitri S.,Diviacco B.,Fabris A.,Fabris R.,Fawley W.,Ferianis M.,Ferrari E.,Ferry S.,Froehlich L.,Furlan P.,Gaio G.,Gelmetti F.,Giannessi L.,Giannini M.,Gobessi R.,Ivanov R.,Karantzoulis E.,Lonza M.,Lutman A.,Mahieu B.,Milloch M.,Milton S.V.,Musardo M.,Nikolov I.,Noe S.,Parmigiani F.,Penco G.,Petronio M.,Pivetta L.,Predonzani M.,Rossi F.,Rumiz L.,Salom A.,Scafuri C.,Serpico C.,Sigalotti P.,Spampinati S.,Spezzani C.,Svandrlik M.,Svetina C.,Tazzari S.,Trovo M.,Umer R.,Vascotto A.,Veronese M.,Visintini R.,Zaccaria M.,Zangrando D.,Zangrando M.
Publisher
Springer Science and Business Media LLC
Subject
Atomic and Molecular Physics, and Optics,Electronic, Optical and Magnetic Materials