Substrate Bias Voltage Tailoring the Interfacial Chemistry of a-SiCx:H: A Surprising Improvement in Adhesion of a-C:H Thin Films Deposited on Ferrous Alloys Controlled by Oxygen

Author:

Crespi Ângela E.1,Leidens Leonardo M.1ORCID,Antunes Vinicius2,Perotti Bruna L.1,Michels Alexandre F.1,Alvarez Fernando2ORCID,Figueroa Carlos A.13ORCID

Affiliation:

1. PPGMAT, Universidade de Caxias do Sul, 95070-560 Caxias do Sul, RS, Brazil

2. Instituto de Física “Gleb Wataghin”, Universidade Estadual de Campinas, 13083-970 Campinas, SP, Brazil

3. Plasmar Tecnologia Ltda., 95030-775 Caxias do Sul, RS, Brazil

Funder

Conselho Nacional de Desenvolvimento Cient?fico e Tecnol?gico

Plasmar Tecnologia Ltda

Publisher

American Chemical Society (ACS)

Subject

General Materials Science

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