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American Chemical Society (ACS)
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7 articles.
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1. MASTIF: Mass analysis of secondaries by time‐of‐flight technique. A new approach to secondary ion mass spectrometry;Review of Scientific Instruments;1989-10
2. High‐spatial and high‐mass‐resolution SIMS instrument for the surface analysis of chemically complex materials;Review of Scientific Instruments;1989-01
3. Fundamental Aspects of Ion Microanalysis;Material Characterization Using Ion Beams;1978
4. Einsatz moderner instrumenteller Methoden zur Spurenanalyse in hochschmelzenden Metallen;Achtes Kolloquium über Metallkundliche Analyse mit Besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl- und Ionenstrahl-Mikroanalyse Wien, 27. bis 29. Oktober 1976;1977
5. Applications of Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS);Achtes Kolloquium über Metallkundliche Analyse mit Besonderer Berücksichtigung der Elektronenstrahl- und Ionenstrahl-Mikroanalyse Wien, 27. bis 29. Oktober 1976;1977