Affiliation:
1. EMBRAPA; USP; IBM, USA
2. USP
3. EMBRAPA; USP
4. IBM, USA
5. EMBRAPA
Abstract
As técnicas de microscopia de varredura por força tem promovido um grande impacto em ciência dos materiais devido a possibilidade de obtenção de imagens em escala que pode chegar no nível atômico. Neste trabalho serão apresentados o princípio básico de funcionamento da microscopia de varredura por força, os vários modos de operação e as forças envolvidas e medidas. O potencial de aplicação destas técnicas no estudo de materiais, e em particular de polímeros, serão discutidos. Uma comparação da microscopia de força atômica com outras técnicas de microscopia será apresentada, assim como exemplos da utilização da técnica de microscopia de força atômica para o estudo de polímeros.
Subject
Organic Chemistry,Chemical Engineering (miscellaneous)
Reference37 articles.
1. Surfaces studies by scanning tunneling microscopy;Binnig G.;Phys. Rev. Let.,1982
2. Atomic force microscope;Binnig G.;Phys. Rev. Let.,1986
3. Atomic force microscopy;Meyer E.;Prog. in Surf. Sci.,1992
4. NanoScope Command Reference Manual
Cited by
14 articles.
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