PARAMETROS DE ANÁLISE DE MORFOLOGIA EM NANOESCALA OBTIDAS POR AFM DE FILMES POLIMÉRICOS: UMA BREVE REVISÃO DE LITERATURA

Abstract

A análise da morfologia em nanoescala de filmes poliméricos utilizando Microscopia de Força Atômica (AFM) é essencial para entender as propriedades físicas e topográficas desses materiais. Este artigo de revisão tem como objetivo explorar de forma detalhada os principais parâmetros de superfície obtidos por AFM na análise de filmes poliméricos. São discutidas as equações matemáticas associadas a parâmetros importantes como rugosidade média, rugosidade quadrática média, curtose, assimetria, dimensão fractal, lacunaridade fractal, entropia de superfície, sucolaridade fractal e índice de Moran. Essas equações fornecem uma base teórica robusta para a interpretação dos dados obtidos e permitem uma análise minuciosa das características superficiais dos filmes. O artigo também ressalta a importância desses parâmetros como indicadores cruciais para avaliar a qualidade e a funcionalidade dos filmes poliméricos, proporcionando uma visão abrangente sobre como esses parâmetros podem afetar a performance e as propriedades dos materiais analisados. Essa abordagem contribui significativamente para a compreensão e aplicação dos filmes poliméricos em diversas áreas.